噴霧顆粒分析監測儀 德國AOM系統公司名稱來源于“Advance Optical Measurement Systems“，即先進的光學測量系統，AOM公司作為噴霧監測技術的發明者，為噴霧或粉體顆粒的特性描述提供了創新的探測器和測量系統，并獲得了2015年德國工業獎。此系統采用時間漂移技術實時監測噴霧的過程中液滴或粉體顆粒的大小，速度，動量或流量密度等特性，為噴霧或粉體顆粒的監測提供了*的測量

納米顆粒跟蹤分析儀 Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術，結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。

顆粒電位滴定及粒度分析儀 分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是*的。當顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。

Zeta電位及納米粒度分析儀 麥奇克（Microtrac Inc.）是世界上Z著名的激光應用技術研究和制造廠商，其先進的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，軍工等領域，并成為眾多行業的質量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創新，近半個世紀以來，一直*著激光粒度分析的前沿技術，可靠的產品和強大的應用支持及完善的售后服務，